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镀层测厚仪的特点描述

  镀层测厚仪测量速度快:速度比其它TT系列快6倍;精度高 :度层测厚仪产品简单校0后精度即可达到1-2%是目前市场上能达到A级的镀层测厚仪产品,其精度远高于时代等国内同类.比EPK等进口产品精度也高;

  3. 稳定性:镀层测厚仪测量值的稳定性和使用稳定性优于进口产品;

  4. 功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法 覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线

  荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽

  样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可

  测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。 随

  着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一

  步。度层测厚仪测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研

  使用广泛的度层测厚仪器。 采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材,使用镀层测厚仪检测速度快,能使大量的检测工作经济地进行。


文章分类: 行业新闻
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